"Metrologie pro podporu a rozvoj průmyslu II", "Metrologie pro redefinici jednotek SI II" a "Otevřená výzva"
V roce 2012 proběhla 4. výzva projektu EMRP s tématy "Metrologie pro podporu a rozvoj průmyslu II" se zaměřením na průmyslové inovace, "Metrologie pro redefinici jednotek SI II" se zaměřením na praktické aplikace a realizace metrologické návaznosti a "Otevřená výzva", která má umožnit realizaci libovolných metrologických projektů nepokrytých žádnou s dosavadních výzev. Pro oblast průmyslu bylo finálně navrženo XX projektů, z nichž pro EMRP "Metrologie pro podporu a rozvoj průmyslu II" bylo schváleno následujících 13 projektů (z toho 9 s účastí ČMI):
- Metrologie pro optické a radiofrekvenční komunikační systémy
- Multidimensionální reflektometrie pro průmysl
- Metrologie velkého objemu v průmyslu
- Nová elektronická zařízení založená na detekci deformace v nanoměřítku
- Kompaktní mikrovlnné hodiny pro průmyslové aplikace
- Postupy chemické metrologie pro výrobu vyspělých biomateriálů v průmyslu se zdravotnickými prostředky
- Metrologie pro zpracování materiálů s vysokým obsahem přírodních radionuklidů (MetroNORM)
- Metrologie pro polohování v šesti stupních volnosti
- Udržitelné elektrické stroje a zařízení s redukovaným obsahem kovů vzácných zemin
- Zlepšené zkušební metody EMC v průmyslovém prostředí
- Metrologie pro testování erozí při vysokých teplotách
- Rozměrové měření přímo v procesu výroby se zajištěnou návazností
- Metrologie znečisťujících plynných látek ve výrobním prostředí
Program „Metrologie pro redefinici jednotek SI II“ navazuje na 3. výzvu projektů EMRP zaměřenou na implementaci redefinice jednotek a praktickou realizaci základních jednotek SI a dotčených vedlejších jednotek. Finálně bylo schváleno 14 projektů (z toho 11 s účastí ČMI), což je dvojnásobek schválených projektů v této oblasti, než tomu bylo v rámci 3. výzvy.
- Kvantová metrologie odporu založená na grafénu
- Metrologie tepelně izolačních materiálů
- Automatizovaná metrologie rozšiřující využití kvantových etalonů v oblasti elektrické impedance
- Návaznost měření pro stanovení biologicky relevantních molekul a shluků
- Mezinárodní časová škála realizovaná optickými hodinami
- Realizace, přenos a aplikace jednotky Watt vzduchové neprůzvučnosti
- Nové primární standardy a sledovatelnost pro radiometrii
- Metrologie úhlu
- Metrologie vzorkovaných elektrických měření - návaznost průběhu napětí na kvantové etalony
- Metrologie dálkového průzkumu
- Krystaly a samouspořádané struktury jako délkové standardy
- Metrologie nových elektrických veličin ve vysokofrekvenčních obvodech
- Návaznost v oboru síla v meganewtonovém rozsahu
- Metrologie vlhkosti v materiálech
Program "Otevřená výzva" je novým programem vyhlášeným poprvé ve 4. výzvě, který má umožnit realizaci libovolných metrologických projektů nepokrytých žádnou s dosavadních výzev. V rámci tohoto projektu byly schváleny celkem 4 navržená témata, kdy ČMI se podílí pouze na jednom projektu.
- Fáze kvantové realizace optických hodin a atomových senzorů
- Jedno-fotonové zdroje pro kvantové technologie
- Měření a kontrola single-fotonu mikrovlnného záření na čipu
- Spintronika a spin-kaloritronika v magnetických nanosystémech
Celkově je ČR v EMRP "Metrologie pro podporu a rozvoj průmyslu II", "Metrologie pro redefinici jednotek SI II", "Otevřená výzva" zapojena ve 28 projektech, které budou řešeny v průběhu let 2013 - 2017.